1. Diese Seite verwendet Cookies. Wenn du dich weiterhin auf dieser Seite aufhältst, akzeptierst du unseren Einsatz von Cookies. Weitere Informationen

FRT: Vollautomatisierte Anlagen zur Untersuchung von Halbleiter- und MEMS-Wafern weit

Diskutiere FRT: Vollautomatisierte Anlagen zur Untersuchung von Halbleiter- und MEMS-Wafern weit im Produktneuheiten Forum im Bereich HERSTELLER; (pressebox) 18.02.2008 - 18:04 Uhr - Effizienz und Durchlaufzeiten in Produktionsprozessen von Wafern verbessert die Fries Research & Technology...

  1. Presse

    Presse Spannungstauglich

    Dabei seit:
    16.02.2008
    Beiträge:
    999
    Zustimmungen:
    0
    (pressebox) 18.02.2008 - 18:04 Uhr - Effizienz und Durchlaufzeiten in Produktionsprozessen von Wafern verbessert die Fries Research & Technology GmbH (FRT) mit vollautomatisierten Anlagen zur metrologischen Wafervermessung. Eine neu entwickelte Software-Plattform ermöglicht die vollständige Automatisierung im Frontend- und Backendbereich. Durch passgenaue modulare Hardware können die Anlagen für unterschiedliche Wafergrößen und -formen sowie alle gängigen metrologischen Messaufgaben ausgelegt werden. Speziell zur Untersuchung von nicht-SEMI-konformen Wafern, wie aus dem MEMS-Bereich, steht nun eine umfassende Lösung bereit. Damit...

    Weiterlesen...
     
  2. Anzeige

    Schau dir mal diesen Ratgeber an. Kann bei vielem weiterhelfen.
    Registrieren bzw. einloggen, um diese und auch andere Anzeigen zu deaktivieren
Thema:

FRT: Vollautomatisierte Anlagen zur Untersuchung von Halbleiter- und MEMS-Wafern weit